2021年5月10日，中国国家知识产权局和世界知识产权组织共同主办的第二十二届中国专利奖评审结果公示。我院潘时龙教授团队荣获第二十二届中国专利优秀奖。中国专利奖是中国唯一的专门对授予专利权的发明创造给予奖励的政府部门奖，得到联合国世界知识产权组织（WIPO）的认可。

  获奖发明专利：潘时龙，薛敏，李树鹏，赵永久，“一种基于光双边带调制的光器件测量方法及测量系统”，专利号：ZL201610059270.9，授权日期：2018年7月24日。

  光器件多维光谱响应超高分辨率测量现已成为信息领域创新突破及研制生产面临的“卡脖子”难题。本专利创新地提出了基于光双边带调制的光器件测量方法，突破了传统方法测量分辨率和相位精确度受限的关键问题，实现了多维光谱响应的高分辨率测量。以该专利作为核心基础专利，提出了多项改进型专利，进一步拓展了测量范围、提升了动态范围、降低了测量误差，实现了新型超高分辨率多维光谱响应测量技术性能的大幅度提升。相比于传统光谱响应测量技术，本专利形成了全新的技术体系，极大的提升了频率分辨率和相位测量准确度。最终，形成了以本专利为核心的专利组合，对新型超高分辨多维光谱响应测量技术形成了良好的保护。

  以本专利技术为核心，发展出了全新的超高分辨率光矢量分析技术，成功研制了具有自主知识产权的系列仪表。研制的仪表已通过“国防科技工业光电子一级计量站”测试，相比于传统光谱响应测量技术，分辨率提升4000倍至50 kHz，相位准确度提升15倍至±0.2°，如表所示。有力支撑了高端核心光器件设计、制造、分析与应用完整体系的建立，为新一代信息技术的关键突破和重大应用奠定测量基础。本专利技术已大量应用于新型光通信、关键国防装备等战略领域的高端光器件研发和生产，应用单位包括华为、海思光电子、长飞光纤、中航光电、航天电器、光迅科技等信息领域龙头企业，以及中电14所、中科院半导体所、东南大学等科研院所。

  基于上述专利成功研制的超高分辨率光矢量分析仪获得了江苏省科学技术奖一等奖、日内瓦国际发明展大会特别金奖（展会最高奖项），仪器被认定为“2020年江苏省首台（套）重大装备”，入选2020年度中国光学十大进展。

公示链接：http://www.cnipa.gov.cn/art/2021/5/10/art_75_159249.html

获奖专利为核心研制的超高分辨率光矢量分析系列仪表

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